选通成像应用-荧光寿命成像

荧光寿命可通过在两个不同延迟时刻开启的相同宽度的门内记录荧光强度信息。通常情形下可采用多门控探测，即选取多个窗口获取多幅图像来反演寿命图像。选通型像增强相机可实现样品的宽场荧光寿命成像。通过在样品受到超短光脉冲激发后的不同时刻，获得一组荧光强度图像，利用特定算法，逐点计算出样品上各点的荧光寿命并成像。

产品特点：

适用于工业检测、科学研究

易于存图处理

10ns最小光学门宽

超高灵敏度

效果展示：